一种双重频扫频激光测距装置及方法【中国发明】

一、专利名称及专利号

名称：《一种双重频扫频激光测距装置及方法》

专利号：ZL202110418293.5

二、应用领域

本发明涉及激光测距技术领域，尤其涉及的是一种双重频扫频激光测距装置及方
法。

三、专利说明

1、摘要：

本发明公开了一种双重频扫频激光测距装置及方法，包括：宽谱脉冲光源、脉冲调制模块、色散拉伸模块、测量臂、参考臂、精度相干探测模块、飞行时间测量模块以及控制端；脉冲调制模块和色散拉伸模块分别用于对宽谱脉冲光源产生的相干宽谱锁模脉冲光进行倍频处理、分频处理以及色散时域拉伸，得到第一扫频信号和第二扫频信号；精度相干探测单元用于采集第一扫频信号和第二扫频信号的干涉号；飞行时间测量模块用于采集输入测量臂前的第二扫频信号和测量臂输出的第二扫频信号；控制终端用于确定待测距离。本发明的测距装置可以测量区，使探测范围提高到数十千米以上，实现高速、高精度和大量程的扫频干涉激光测距。

2、背景：

  激光测距技术具有精度高、准直性好、抗干扰能力强等诸多优点而被广泛应用于卫星遥感、精密测量与加工、机械制造、工程建设以及安全监测等领域。现有的激光测距技术包括飞行时间法、电调制相位法、基于干涉相位测量技术以及扫频干涉测量技术等，但现有激光测距技术无法同时实现大量程和高精度的距离测量。
  因此，现有技术还有待改进和发展。

四、相关文件下载

专利证书：/UploadFiles/20231027/20231027162064776477.pdf

专利详情：/UploadFiles/20231027/20231027162180998099.pdf