一种双功能超透镜和光的旋性探测方法【中国发明】

一、专利名称及专利号

名称：《一种双功能超透镜和光的旋性探测方法》

专利号：ZL202110714272.8

二、应用领域

本发明涉及光学领域，尤其涉及的是一种双功能超透镜和光的旋性探测方法。

三、专利说明

1、摘要：

本发明公开了一种双功能超透镜和光的旋性探测方法，所述双功能超透镜包括：超透镜镜体和与所述超透镜镜体相连的端面；所述超透镜包含第一介电质微结构和第二介电质微结构，其中，所述第一介电质微结构用于对所述端面的出射光进行中心聚焦，所述第二介电质微结构用于对所述端面的出射光进行离轴聚焦。由于本发明中的双功能超透镜可以同时实现中心聚焦和离轴聚焦两种功能，因此可以解决现有技术中，利用介电质微结构来调节传播相位调节值的超透镜大多只具有中心聚焦的功能，功能较为单一的问题。

2、背景：

目前市面上存在的超透镜大体分为两种：一种是基于金属微结构调节几何相位调节值的超透镜；另一种是利用介电质微结构来调节传播相位调节值的超透镜。然而前者只能利用转换光的旋性来提供相位调节值变化，例如由左旋光转换为右旋光或者由右旋光转化为左旋光，因此应用范围受到了限制。并且金属微结构的损耗很大，很难实现对光的高效率调控。后者因为利用传播相位调节值调控，可以保持光的旋性，并且介电质的损耗也相对较小。因此利用介电质微结构来调节传播相位调节值的超透镜应用更加广泛，然而现有的利用介电质微结构来调节传播相位调节值的超透镜大多只具有中心聚焦的功能，功能较为单一。

四、相关文件下载

专利证书：/UploadFiles/20230403/20230403100137353735.pdf

专利详情：/UploadFiles/20230403/20230403100118891889.pdf